株式会社セムテックエンジニアリング
最終更新日：2018-11-07 14:18:13.0
6-2 FPIA 粒径測定 分級前
基本情報6-2 FPIA 粒径測定 分級前
6-2 分級前 実験用 機能性アクリル粒子 ≪粒径分布の最大粒子を確認≫
・分級実験用 粒子を準備
粒径分布の幅が非常にシャープで 上限が５μｍ以下・真球度も優れているアクリル粒子（硬い）に少し大きい５μｍ付近の未分級アクリル粒子を実験用に微量混合
・一般的な粒径分布測定装置では測定しても 微量のためグラフには個別の粒子は表示しません
・画像解析装置 FPIA-3000では５μｍ以上の粒子が 測定個数１８,５２５中 ８個混在しています
5-2 FPIA 粒径測定 分級前
・分級実験用 粒子を準備
粒径分布の幅が非常にシャープで 上限が５μｍ以下・真球度も優れているアクリル粒子（硬い）に少し大きい５μｍ付近の未分級アクリル粒子を実験用に微量混合
・一般的な粒径分布測定装置では測定しても 微量のためグラフには個別の粒子は表示しません
・画像解析装置 FPIA-3000では５μｍ以上の粒子が 測定個数１８,５２５中 ８個混在しています
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取扱会社 6-2 FPIA 粒径測定 分級前
■エレクトロフォーミング(電鋳)技術による ・超微細加工：開発/製造受託 ・超高精度ふるい：開発/製造受託 ・超高精度フィルター/篩(ふるい)/メッシュ/蒸着マスク等：開発/製造受託 ・超高精度微細金型：開発/製造受託 ・超高精度センサー部品：開発/製造受託 ・微小製品：開発/製造受託
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