カタログ発行日：2020/12/10

BAR XPS_2019

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HAXPES Lab system

硬X線を励起源とするラボタイプの光電子分光システムです

硬X線光電子分光法(HArd X-ray PhotoElectron Spectroscopy : HAXPES)は、
多くの放射光施設が既に導入している、次世代の光電子分光(XPS)の一つです。ビームラインより、膜の下地や埋もれた界面、通常のXPSでは届かない深い内殻軌道の情報が得られる手法として注目されています。従来では放射光施設でのみ測定出来たこの手法をお手元のラボにこのシステムを置くことで、表面の情報だけではなく、バルクの情報も得られる次世代の光電子分光測定が可能となります。（詳細を見る）

取扱会社 BAR XPS

シエンタオミクロン株式会社

○固体表面の分析・評価技術、製膜技術 ○関連装置の輸入と開発・製造・サービス・販売

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