光伝送用長合分波モジュール向け　温度依存性評価専用装置LEAF No.5GPJ_41

第 5 世代移動通信システム（５G）用機器・デバイスの評価には、デバイスの発熱量増加による信頼性試験や高低温環境下での動作試験、高周波域における温度依存性の評価、高低温環境下でのOTA試験といった新たな試験課題がございます。また、さまざまな用途や場面で通信技術が用いられることにより、これまで以上に高い信頼性が求められており、試験頻度も高くなってきます。
本展示会では５G関連デバイスの開発・設計・製造に役立つ各種試験装置をご紹介します。

【出展製品】
■温度環境下でのOTA試験・無線試験用装置
■５G通信機器向け　シールド仕様恒温槽
■高発熱負荷　高温/低温　耐久試験装置
■高周波インダクタ/コンデンサ温度特性評価試験装置
■積層チップインダクタ信頼性評価試験装置
■コンデンサ絶縁劣化評価試験装置
■導体抵抗評価試験装置
■輸送評価試験装置
■温度サイクル試験装置
■導通信頼性評価装置　他

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