ユーロフィンイーエージー株式会社
最終更新日：2022-03-25 17:44:51.0
【受託サービス】電源・ACアダプタの評価／故障解析サービス
基本情報【受託サービス】電源・ACアダプタの評価／故障解析サービス
長年ものづくりに携わって来た経験豊富なラボ技術者が解析はもちろん、あらゆる品質改善にいたるまでお客様をサポートします。
さまざまな電子部品／機器の故障解析／分析・外部購入品の良品検査・信頼性評価／環境試験析を行ってきた専門ラボでの受託サービスになります。
＜サービス概略＞
【安全評価サービス】
・電源回路の安全性評価
・ワイヤレス給電・USB PDの安全性評価
【ノイズ耐量・特性評価サービス】
・ノイズ印加（イミュニティ）試験・特性評価
【故障解析サービス】
・故障回路の部位特定
・故障メカニズムの推定
・故障の再現性実験
【受託サービス】電源・ACアダプタの評価／故障解析サービス
さまざまな電子部品／機器の故障解析／分析・外部購入品の良品検査・信頼性評価／環境試験析を行ってきた専門ラボでの受託サービスになります。 （詳細を見る）
取扱会社 【受託サービス】電源・ACアダプタの評価／故障解析サービス
【信頼性評価/故障解析サービス】 ・電子部品/機器の信頼性評価/環境試験 ・電子部品/機器の故障解析/良品検査 ・X線CT/透過装置/超音波探傷での非破壊検査 【分析サービス】 ◆ 不純物分析(定量、定性、面内分布、キャリア濃度、汚染など) ・SIMS、PCOR-SIMS（二次イオン質量分析） ・GDMS（グロー放電質量分析） ・ICP-MS（誘導結合プラズマ質量分析） ◆ 組成分析(組成、膜厚、密度、結合状態、微小異物、マッピングなど) ・TEM/STEM-EDS / EELS（透過型電子顕微鏡） ・RBS/HFS（ラザフォード後方散乱分析/水素前方散乱分析） ・XPS/ESCA（X線光電子分光分析）・XRR（X線反射率測定）など ◆ 形態観察/構造解析(形状、膜厚、構造、欠陥観察、結晶性、結合状態など) ・3D-APT（3次元アトムプローブ） ・TEM/STEM（透過型電子顕微鏡） ・FIB/SEM（集束イオンビーム/走査型電子顕微鏡） ◆ ORS社分析サービス 気密性試験 ・IVA/HR-IVA分析（半導体などの封止パッケージ内の水分量/ガス成分分析）
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