株式会社アイテス
最終更新日:2023-04-07 16:40:33.0
パワーデバイスの逆バイアス試験(最大2000V)
パワーデバイスの逆バイアス試験(最大2000V)
株式会社アイテスでは、パワーデバイスの酸化膜及び接合部評価の
高温逆バイアス試験(HTRB)が最大2000Vまで印加できます。
試験中のリーク電流のモニタリングにより、リアルタイムでデバイスの
劣化状況が把握可能。電源が独立しているために試験中に一つのデバイスが
故障した場合でも他のデバイスに影響を及ぼしません。
また、不良基準(電流値)の設定が可能で不良判定デバイスの電源を
不良判定時に遮断することができます。
【特長】
■試験中のリーク電流のモニタリングにより、リアルタイムで
デバイスの劣化状況が把握出来る
■電源が独立しているために試験中に一つのデバイスが
故障した場合でも他のデバイスに影響を及ぼさない
■不良判定デバイスの電源を不良判定時に遮断することができる
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 (詳細を見る)
半導体製品の信頼性トータル・ソリューション
【試験・評価・分析・解析】
●信頼性試験
■温度サイクル試験
■冷熱衝撃試験
■高温保存試験
■高度加速寿命試験
■プリコンディショニング
■ホットオイル試験
■In-situ常時測定
■イオンマイグレーション試験
■エレクトロマイグレーション試験
■テストコンサルティンング
●評価試験
■接合強度試験:プル/ シェア試験
■機械的強度試験:振動・衝撃/落下試験/圧縮強度・ズレ強度
■ESD / Latch Up / CDM試験
■電気特性計測
■塩水噴霧試験
●分析・解析
■X線透過観察
■超音波顕微鏡観察
■発光解析(EMS/IR-OBIRCH)
■走査型電子顕微鏡(SEM)
■透過型電子顕微鏡(TEM)
■表面汚染分析(TOF-SIMS)
■異物分析(FT-IR)
(詳細を見る)
In-Situ常時測定 信頼性評価試験サービス
In-Situ常時測定 信頼性評価試験では、特性を測定しながら、ストレスを印加し信頼性評価試験を行います。
●正確な故障時間の把握が可能
決まった時間にストレス環境より取り出して測定するリードアウト方式では、リードアウトのタイミングでしか故障の把握ができず、正確な故障発生時間を知ることはできません。
In-Situ測定では、正確な故障時間の把握ができます。
●回復性故障の検出が可能
回復性故障は市場において重大な問題を引き起こすことがあります。
リードアウト方式ではこれら回復性故障の検出がほとんどの場合不可能ですが、In-Situ測定では回復性故障の検出が可能であり、正確な判断/判定ができます。
●試料へのストレス印加状態の監視が可能
ストレス印加状況および測定データをリアルタイムで確認できます。
(詳細を見る)
パワーデバイスのトータルソリューションサービス
■解決する力
知識と技術でかいけつに導くコンサルティング
スピード対応でお客様スケジュールを支援
■つきとめる力
故障個所をピンポイントし可視化する技能
深い洞察力と高度かつ繊細な試料加工技術
■特化した設備
最高180℃での液槽熱衝撃試験
パワー半導体に必須のパワーサイクル試験 (詳細を見る)
【資料】イオンマイグレーション評価試験
信頼性評価手法の1つであるイオンマイグレーション評価試験は、製品の
軽短小への推移によって事前評価としてますます重要な試験となってきています。
当資料では、当社での評価試験の一例を使用してイオンマイグレーション評価の
概略及び試験実施内容を掲載。
評価試験において使用している常時測定(In-Situ)装置の有用性についても
ご紹介します。
【掲載内容】
■はじめに
■イオンマイグレーション
■イオンマイグレーション評価試験
■評価方法
■評価試験事例
■むすび
■参考文献
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 (詳細を見る)
パワーサイクル試験と特性評価
株式会社アイテスでは、シーメンス製(メンター製)のパワーサイクル
試験装置を使用した、パワーサイクル試験の受託を行っています。
試験に必要な各種治具の作成から対応する事も可能です。
また、パワーデバイスの各種観察・測定にも対応しています。
パワーサイクル試験などの試験前後の変化を捉えることができます。
【特長】
■試験に必要な各種治具の作成から対応する事も可能
■パワーデバイスの各種観察・測定にも対応
■パワーサイクル試験などの試験前後の変化を捉えることができる
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 (詳細を見る)
モジュール試作と熱抵抗評価
株式会社アイテスでは、『モジュール試作と熱抵抗評価』を承っております。
パワーデバイス及びパワーデバイスで使用する材料の評価において、実際に
デバイスを組み立てての熱抵抗測定は、実力の把握に有効な方法です。
試作から評価まで対応致します。
ご興味がございましたら、是非お気軽にご相談ください。
【特長】
<パワーモジュールの試作>
■チップの調達からモジュールの組立てまで、一貫して柔軟かつ安価でご提供
■ダイアタッチやTIM材などの評価に好適
<過渡熱抵抗測定>
■パワーデバイス向けのT3Ster(パワーサイクル試験装置 内蔵)にて、
過渡熱抵抗の測定を実施、構造関数の取得と熱解析を行う
■そのデータも用いて、材料間の比較や熱抵抗の算出・不良部の推定などが可能
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 (詳細を見る)
パワーデバイスのHAST試験
株式会社アイテスでは、『パワーデバイスのHAST試験』を承っております。
【特長】
■最大1000V印加での不飽和蒸気加圧試験が可能
■高温高湿下での通電により、金属配線の腐食やマイグレーション等の評価を実施
■試験中のモニタリングにより、リアルタイムでの試料劣化を把握 (詳細を見る)
取扱会社 パワーデバイスの逆バイアス試験(最大2000V)
【解析・信頼性評価事業】 ■電子部品各種データ収集から故障解析までの解析・評価 ■研究開発・製造における原材料評価および特性評価 【検査装置開発事業】 ■太陽光パネル検査・測定器の開発・販売 【電子機器修理事業】 ■産業用機器およびパソコンの修理 【ウェハー加工事業】 ■ウェハー加工サービスおよび販売
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