スポット冷却加熱装置

－40～＋180℃に温度調節した空気を噴射し、試験を効率化するチャンバーレスシステム
様々な計測機器や分析・解析機器と組合せて、半導体や電子デバイスの温度特性試験や故障解析、品質試験にご活用いただけます。

【特長】
■試験効率アップ
先端ヒータータイプは温度変化速度100℃/分（空気温度）を有し、吹出口先端にアタッチメントを取付け試料をコンパクトに囲うことで温度サイクル試験や冷熱衝撃試験の時間を短縮。電力消費量を大幅削減。

■フレキシブル
先端ヒータータイプは水平垂直多関節アームで狙い通りの場所に吹出口を設置が可能。背面ヒータータイプはフレキシブルホースを採用し、試料や評価装置の駆動に吹出口を追随が可能

■チャンバーレス、ドアレスでの試験
専用アタッチメントを用いて恒温槽の観測窓ガラスや金属などの遮蔽物がない状態で試料を冷却加熱が可能。画像センサー（カメラ）やミリ波レーダーをはじめ各種車載センサーの評価や3D変異ひずみ測定システムや赤外線サーモグラフィとの組合せ評価、X線透過装置と組合せて二次電池・半導体・プリント実装基板などの非破壊内部観察などを実現 （詳細を見る）