日本コネクト工業株式会社
最終更新日：2008-03-25 09:22:21.0
半導体用検査ソケット GUシリーズ
基本情報半導体用検査ソケット GUシリーズ
半導体用検査ソケット GUシリーズ
“GUシリーズ”は、4種類の標準インシュレータパッケージを使う半導体用検査ソケット。納期が早く、1個から製作可能。高周波特性は、67GHzまでのネットワークアナライザを用いて測定し、データ提供が可能。ライフサイクルは1万サイクルから100万サイクルまで。接触子ピンは0.4mmピッチから。連続125℃に耐える耐熱性。
取扱会社 半導体用検査ソケット GUシリーズ
電子部品の設計製造販売 電子部品、材料の輸出入 マイクロプロセッサー応用装置の設計、開発製造 （精密部品、特殊部品の加工など精密コネクタ、特殊コネクタ、高電流コネクタの開発。半導体関係検査のための部品開発）
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