[開発事例] HSDIOとLabVIEWを使用したメモリ評価装置ペリテック

安価なHSDIOとLabVIEW を使用したメモリ評価装置の開発

試験時間が大幅に短くなったことで、短時間で複数の試験パターンを試せるようになり、エンドユーザー様にはとても満足していただくことができました。
リテンション試験ではファイル保存しながら収録を行うという処理にしたことで、長い時間のパターン波形でも試験を行うことができました。
本システムの完成により、他社のロジックアナライザでかかっていた試験時間3 日が30 分となりました。
今回の開発によりNI 製品（HSDIO）が、メモリ評価に対するシステムの構築にたいへん有効であることが確認できました。
開発した弊社の評価装置はエンドユーザー様で活用されています。
要求仕様に合せて、必要なNI 社製品のモジュールを選定して組み合わせることで、品質の高いシステムを短期間で構築することが可能となり、性能/納期/コスト削減の面でユーザー様へ貢献することが出来ました。自動化/短納期/低コスト/高品質については、IC の評価装置としては共通の要望でもあり、NI 社製品とLabVIEWを活用したシステムは、他の製品群についても、今後展開されて行くことが充分期待出来ます。

関連リンク - http://www.peritec.co.jp/work/case15.html

基本情報[開発事例] HSDIOとLabVIEWを使用したメモリ評価装置

1.試験時間の短縮
NI 製のシステム【HSDIO（PXIe-6545）】を基本ハードウェアとして採用し、パターン波形作成にはDigital Waveform Editor を使用することで試験時間の問題を解決しました。
2.記憶保持時間（リテンション時間）の測定
リテンション試験は【HSDIO（PXIe-6545）】とNI 製Script Editor を使用することで、任意のリテンション時間を複数設定できるようになり、測定が可能になりました。
HSDIO の収録データはデータ量が多く、メモリ上に保持するとオーバーフローエラーが発生していまいましたが、バイナリィファイルに保存しながら収録することでエラーを起こさずに収録することができました。収録完了後に、ファイルから測定データを読み込みながら、期待値との評価を行いました。
3.操作シーケンス
本システムはTESTSTAND を使用し、試験シーケンスの製作効率UP とパラメータ設定の簡易性を上げ、複数の担当者が使用できるようにしました。

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取扱企業[開発事例] HSDIOとLabVIEWを使用したメモリ評価装置

株式会社ペリテック神奈川エンジニアリングセンター、東京営業所、ベトナム事業所

LabVIEWによるテスター開発 LabVIEWによるシステムの構築 LabVIEWによるドライバの開発外観検査、画像処理・電気回路設計、製作、製造試験器の設計、製造 [ISO9001取得済み] ISO9001:2015 認証番号：QAJC / JP / 1068-B 認証機関：QAIC JAPAN Co., Ltd. 認証事業所：本社・開発センター