【導入事例】LTE測定器の検査にJTAGテストを採用アンドールシステムサポート

高性能・高品質な計測を支える JTAGバウンダリスキャンテスト！

LTE測定器の検査に、「JTAGバウンダリスキャンテスト」を導入したお客様をご紹介します。

当製品を導入することにより、Ｘ線検査では検出することができないハンダ不良やパターン不良を通電試験で確実に見つけることが可能になりました。

また、大規模なFPGAとDDRメモリを組み合わせたシステムは、ファンクションテストでは不良箇所を特定できず、製造ラインへのフィードバックが困難でしたが、当製品を採用して、製造品質を改善することができました。

【事例】
■アンリツ株式会社
　・情報通信の分野で事業を展開し、計測ソリューションをグローバル
　　に提供
■課題
　・ファンクションテストでは不良箇所を特定できず、製造ラインへの
　　フィードバックが困難

※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。

基本情報【導入事例】LTE測定器の検査にJTAGテストを採用

【導入効果】
■高密度実装の各種測定モジュールを筐体に組込む前に不良検出が
　可能となった
■原因の診断を解析できる
■自動生成と実行ができる
■テストカバレッジを上げることができた
■製造品質を改善できた

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