ヒートショック試験装置『250℃対応シリーズ』日立グローバルライフソリューションズ

高温試験温度の上限を拡大した気相式ヒートショック試験装置！

『250℃対応シリーズ』は、パワー半導体の評価試験に求められる200～
250℃の耐熱評価試験を可能とした気相式ヒートショック試験装置です。

高温試験温度250℃において、常温から高温への温度復帰時間10分以内を
実現。常温から低温への温度復帰時間も10分以内です。

また、水冷式と空冷式（空冷リモートコンデンサー）の選択が可能で、設置
場所の環境に合わせて冷却方法を選択いただけます。

【特長】
■温度復帰時間10分以内
■試験槽扉自動ロック機構
■キャスター・レベルアジャスターの標準装備
■空冷仕様の選択が可能

※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせください。

基本情報ヒートショック試験装置『250℃対応シリーズ』

【ラインアップ】
■ES76LM-M
■ES76LM-RM

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