コベルコ溶接テクノ株式会社 『FE-SEM（EDS/EBSD付）観察』
- 最終更新日：2017-03-02 09:56:41.0
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細く絞った電子線を試料に照射！結晶方位や結晶構造の解析もできる電子顕微鏡！
『FE-SEM（電界放射電子銃式走査型電子顕微鏡）』は、汎用SEMよりも更に細く
絞った電子線を試料に照射、走査することによって、より鮮明な拡大像などが
得られる装置です。
また、細く絞った強い電子ビームを利用して結晶方位解析法（Electron Back-Scatter
Diffraction；略してEBSD）を用いると、結晶方位や結晶構造の解析を行うことも
できます。
【適用対象】
■金属材料全般
■セラミックス
■繊維（蒸着処理必要）
※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
基本情報『FE-SEM（EDS/EBSD付）観察』
【観察項目】
■40～500,000 倍での表面形態観察
■40～100,000 倍での反射電子像観察
■エネルギー分散型Ｘ線分析装置（EDS）による元素定性・半定量分析（B～U）
■微小領域の元素同定（定性分析・半定量分析）
■EBSD による結晶方位や結晶構造の解析
※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
| 価格帯 | お問い合わせください |
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| 納期 | お問い合わせください |
| 用途／実績例 | 【用途】 ■原料鉱物微粉末の表面形態観察（無蒸着観察） ■ステンレス鋼における鋭敏化状態（炭化物生成）と結晶方位との関係調査 ■溶接金属凝固組織の結晶方位解析 ■一方向凝固合金の結晶方位解析 ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。 |
カタログ『FE-SEM（EDS/EBSD付）観察』
取扱企業『FE-SEM（EDS/EBSD付）観察』
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