コベルコ溶接テクノ株式会社 『透過型電子顕微鏡（TEM）観察』
- 最終更新日：2017-03-02 13:48:09.0
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結晶性物質の同定や結晶方位の解析ができる電子顕微鏡観察！金属材料全般に適用
『透過型電子顕微鏡（TEM）』は、高い加速電圧の電子線を試料に照射し、
試料を透過した電子線を電磁レンズで拡大することによって透過電子像や
電子線回折像を得ます。
透過電子像では結晶粒界、欠陥、ひずみ、析出物の有無などが観察でき、
電子線回折像からは結晶性物質の同定や結晶方位の解析ができます。
【特長】
■1,000～1,000,000 倍での観察
■EDS 分析による超微小領域の元素同定（分析元素：C～U の定性・半定量分析）
■結晶性物質の同定や結晶方位の解析
※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
基本情報『透過型電子顕微鏡（TEM）観察』
【適用対象】
■金属材料全般
【仕様】
■TEM
・分解能：0.14 nm(格子像)
・加速電圧：300 kV
・観察倍率：1,000～1,000,000 倍
■EDS 分析装置：分析元素；C～U
※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
| 価格帯 | お問い合わせください |
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| 納期 | お問い合わせください |
| 用途／実績例 | 【用途】 ■鋼中析出物の形態観察と半定量分析、同定解析 ■ステンレス鋼における鋭敏化状態の観察と粒界偏析の分析 ■微細凝固組織の元素分配測定 ■溶接金属中非金属介在物の半定量分析、同定解析 ■溶接ヒュームの形態観察と半定量分析、同定解析 ■各種金属における微細析出現象の観察 ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。 |
カタログ『透過型電子顕微鏡（TEM）観察』
取扱企業『透過型電子顕微鏡（TEM）観察』
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