電子部品の初期故障品を見極め！高発熱対応型や省スペース型など多様な品揃え
大村技研の『バーンインシステム』は、半導体デバイスや電子部品に温度や
電気的ストレスを加え、初期故障品の選定に役立つシステムです。
量産品のスクリーニング用から信頼性評価用まで、デバイス品種/処理数、
印加信号等のニーズに沿った機能を付加したシステムの製作が可能です。
省スペースタイプや、高発熱デバイス対応型、低温試験対応タイプなど、
使用状況に合わせた種類をお選びいただけます。
【特長】
■初期故障品の見極めに
■量産品のスクリーニング用から信頼性評価用まで
■使用状況に合わせた特長を持った製品を選択可能
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
基本情報電子部品スクリーニング用/信頼性評価用『バーンインシステム』
【ラインアップ】
■スクリーニング用バーンイン
・Sタイプ：省スペース使用あり
・Hタイプ：高発熱デバイス対応
・Lタイプ：大容量タイプ
・Tタイプ：小ロット対応
■信頼性評価用バーンイン
・R3タイプ：信号マルチプレックス可
・R3Lタイプ：低温試験対応
・R2タイプ：4ゾーン対応
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
| 価格帯 | お問い合わせください |
|---|---|
| 納期 | お問い合わせください |
| 用途／実績例 | 【用途】 ■電子部品や半導体のスクリーニング ■電子部品や半導体の信頼性評価 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 |
カタログ電子部品スクリーニング用/信頼性評価用『バーンインシステム』
取扱企業電子部品スクリーニング用/信頼性評価用『バーンインシステム』
電子部品スクリーニング用/信頼性評価用『バーンインシステム』へのお問い合わせ
お問い合わせ内容をご記入ください。
