アルバック・ファイ株式会社 デュアルX線光電子分光分析装置『PHI Quantes』
- 最終更新日：2018-04-18 10:38:39.0
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これまでの常識を超える新しい応用分野を切り開くXPS！
『PHI Quantes』は、エネルギーの異なる硬X線（Cr Kα線）と従来の
軟X線（Al Kα線）の2線源を搭載し、微小領域から大面積まで高感度な分析が
可能な走査型デュアルＸ線光電子分光分析装置 (XPS)です。
2種類のX線源は短時間･自動で切り替えが可能。
試料の同一箇所を分析することができます。
【特長】
■走査型デュアルモノクロX線源
■2線源による容易な同領域測定
■ターンキー帯電中和
■自動分析
■高耐圧アナライザ
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基本情報デュアルX線光電子分光分析装置『PHI Quantes』
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| 価格帯 | お問い合わせください |
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カタログデュアルX線光電子分光分析装置『PHI Quantes』
取扱企業デュアルX線光電子分光分析装置『PHI Quantes』
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【取扱製品】 ■X線光電子分光分析装置 XPS ・PHI Quantes ・PHI 5000 VersaProbe III ・PHI X-tool ・PHI Quantera II(TM) ■走査型オージェ電子分光分析装置 AES ・PHI 710 ・PHI 4800 ■飛行時間型二次イオン質量分析装置 TOF-SIMS ・PHI nanoTOF II(TM) ・MS/MS オプション ■四重極型二次イオン質量分析装置 D-SIMS ・PHI ADEPT-1010(TM) ■高速分光エリプソメーター ・PHI QuickSE シリーズ など
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