アルバック・ファイ株式会社営業部 （国内・海外）

アルバック・ファイ株式会社は、表面分析装置 「X線光電子分光分析装置
（XPS）」、「二次イオン質量分析装置（TOF-SIMS,D-SIMS）」、
「走査型オージェ電子分光分析装置（AES）」の取扱メーカーとして、
先進的な表面分析装置をご提供いたします。

品質管理から研究開発などのあらゆる場面で、お客様のご意見を
しっかりと受け止め、卓越した表面分析技術と充実のアフターサービス
体制で様々なご要望にお応えします。

また、独創的な製品開発と最先端の表面分析技術を発信することで
次世代テクノロジーの開発に貢献いたします。

【取扱製品】
■X線光電子分光分析装置 XPS
　・PHI Quantes
　・PHI 5000 VersaProbe III
　・PHI X-tool
　・PHI Quantera II(TM)
■走査型オージェ電子分光分析装置 AES
　・PHI 710
　・PHI 4800
■飛行時間型二次イオン質量分析装置 TOF-SIMS
　・PHI nanoTOF II(TM)
　・MS/MS オプション
■四重極型二次イオン質量分析装置 D-SIMS
　・PHI ADEPT-1010(TM)
■高速分光エリプソメーター
　・PHI QuickSE シリーズ　など