日邦プレシジョン株式会社 透過偏光測定試料ステージUNIT『TP-POL-1』

透過偏光測定試料ステージUNIT『TP-POL-1』 http://www.ipros.jp/public/product/image/5d4/2000383850/IPROS2034502850256463213.jpg ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 日邦プレシジョン株式会社 測定・分析 > 分析機器 > 分光分析装置
テラヘルツ分光装置に搭載可能!試料による偏光の影響を測定するためのステージ

『TP-POL-1』は、テラヘルツ分光装置「TeraProspecor」に搭載可能な
試料による偏光の影響を測定するためのステージです。

入射および検出信号の水平偏光成分以外をカットするための偏光子と、
挿入した試料を回転させることができる試料ホルダーから構成されます。

【仕様】
■型式:TP-POL-1
■試料回転角:360°(手動で任意の角度に設定可能)
■消光比:<10-4

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基本情報透過偏光測定試料ステージUNIT『TP-POL-1』

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価格 -
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発売日 取扱い中
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よく使用される業種 電子部品・半導体、光学機器、試験・分析・測定、建築・土木・エンジニアリング、製造・加工受託、その他製造、医療・福祉、教育・研究機関、官公庁、その他

カタログ透過偏光測定試料ステージUNIT『TP-POL-1』

透過偏光測定試料ステージUNIT『TP-POL-1』

透過偏光測定試料ステージUNIT『TP-POL-1』 表紙画像

『TP-POL-1』は、テラヘルツ分光装置「TeraProspecor」に搭載可能な
試料による偏光の影響を測定するためのステージです。

入射および検出信号の水平偏光成分以外をカットするための偏光子と、
挿入した試料を回転させることができる試料ホルダーから構成されます。

【仕様】
■型式:TP-POL-1
■試料回転角:360°(手動で任意の角度に設定可能)
■消光比:<10-4

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取扱企業透過偏光測定試料ステージUNIT『TP-POL-1』

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○半導体製造装置、検査装置及び液晶パネル表示装置の設計・製造 ○同上周辺装置の設計・製作及び関連機器の製造 ○電子応用精密機器、計測装置及びメカトロ製品の設計・製造 ○各種検査システム及び搬送システムの開発・設計 ○磁性材料、セラミック、炭素繊維その他新素材の販売 ○アプリケーションソフトウェアの設計 ○赤外線分光装置及びテラヘルツ分光分析装置の設計・製作

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