LTCC（低温同時焼成セラミックス）用のグリーンシートに
存在するシミ、異物付着といった欠陥や印刷された電極パターンに存在する
凹凸や太り、細り、異物付着等の外観検査を行う装置です。
電極パターンの位置度を検査することが可能で、グリーンシート積層前の
品質管理にご使用いただけます。
【特長】
■高精細2D検査で微細な欠陥や精密な寸法検査を実現
■高精細3D検査で微細な凹凸の検査を実現
■マルチアングル照明を用いて好適な照明環境を実現
■高速照明切替と高速画像取込みで高速検査を実現
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
基本情報セラミックデバイス グリーンシート外観検査装置
【検査項目】
＜欠陥検査＞
■セラミックス部
・キズ
・異物
・スクラッチ
・変色
・汚れ
・シミ
■電極部
・凹凸
・パターン上異物
・パターン太り
・パターン細り
・パターン断線
・パターンショート
＜寸法検査＞
・外形サイズ
・電極パターン位置度
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| 価格帯 | お問い合わせください |
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| 納期 | お問い合わせください |
| 用途／実績例 | 【用途】 ■LTCC（低温同時焼成セラミックス）用のグリーンシートに存在するシミ、異物付着といった 欠陥や印刷された電極パターンに存在する凹凸や太り、細り、異物付着等の外観検査 【対象ワーク】 ■積層コンデンサ用グリーンシート ■積層インダクタ用グリーンシート ■高周波デバイス用グリーンシート 等 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 |
カタログセラミックデバイス グリーンシート外観検査装置
取扱企業セラミックデバイス グリーンシート外観検査装置
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