マイクロニクス株式会社 微少電流・高抵抗測定、部分放電試験のための環境

【アプリケーション事例】微少電流・高抵抗測定、部分放電試験のためのシールド環境

微少電流・高抵抗測定、部分放電試験のための環境について、当社では
様々なフィクスチャサイズに対応できるシールドボックスをご用意しています。

高抵抗測定は2次電池や半導体で用いる電気絶縁材料、コンデンサやプリント
基板などの電子部品、また各種合成樹脂やゴム材料など幅広い分野において、
研究開発から製造、品質検査まで実施されます。

高電圧印加時の半導体素子のリーク電流などを、高感度・高精度に測定するには、
誘導ノイズや静電結合、誤差電流を最小にするための配慮(EUTから測定器までを
完全にシールドする)が必要です。

【対象アプリケーション】
■材料化学
・バイオマテリアル、セラミック、エラストマー、薄膜、誘電材料、
 電気化学、強誘電体、グラフェン、金属、有機材料 他
■デバイス/電子コンポーネント
・キャパシタ、抵抗、ダイオード、センサなどのトランジスタ、
 光電子部品、太陽電池セル 他
■電子/非電子システム
・イオン・ビーム、電子ビーム 他

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

基本情報微少電流・高抵抗測定、部分放電試験のための環境

【システム構成】
■シールドボックス [MY1510N]
■シールドボックス [MY1520N]
■シールドボックス [MY1530N]
■ピコアンメータ,エレクトロメータ

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価格帯 お問い合わせください
納期 お問い合わせください
用途/実績例 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

カタログ微少電流・高抵抗測定、部分放電試験のための環境

取扱企業微少電流・高抵抗測定、部分放電試験のための環境

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◇電子計測器 ハンディ型スペクトラム・シグナルアナライザ、RF信号発生器、可変アッテネータを中核に据え、今後益々、計測システムを始めとするシステム・ソリューションを充実させていきます。 ◇情報通信機器 ITSに注力していきます。ETC・DSRC試験システムでは95%以上のシェアを確保しています。当面は高速道路以外でのETC技術の活用(多目的利用)が進められている、DSRC関連機器の開発を行っていきます。  ITS:高度道路交通システム  ETC:電子料金収受システム  DSRC:狭域通信 ◇環境関連機器 電磁波環境については、EMC試験システムと電波暗箱をさらに充実させていき、ユーザの要望に応えていきます。マイクロ波からミリ波領域への技術革新に対応していきます。  EMC:電磁両立性  マイクロ波:300MHz~30GHz  ミリ波:30GHz~300GHz

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