株式会社SCREEN PEソリューションズ LVH等の孔検査に最適な光学式外観検査装置 『MIYABI 7』
- 最終更新日：2018-10-19 10:28:18.0
- 印刷用ページ
スルーホールやレーザービア（LVH）検査に多くの実績あり。長年の知見と最新技術を結集したハイエンド基板向けAOI
◆スルーホールやレーザービア（LVH）をパターンと同時に全穴検査
◆あらゆる基板を高精度に検査する新開発の照明系
◆パッド・ラインを個別に条件設定、欠陥検出精度を向上
◆フロントソフトウェアセットアップ時間短縮(約15分)
基本情報LVH等の孔検査に最適な光学式外観検査装置 『MIYABI 7』
光源：LED（R, B, IR）
積載可能サイズ：720(X)×740(Y)mm
最大検査エリア：720(X)×740(Y)mm
| 価格帯 | お問い合わせください |
|---|---|
| 納期 | お問い合わせください |
| 型番・ブランド名 | MIYABI |
| 用途／実績例 | ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。 |
カタログLVH等の孔検査に最適な光学式外観検査装置 『MIYABI 7』
取扱企業LVH等の孔検査に最適な光学式外観検査装置 『MIYABI 7』
-
-
■プリント基板関連機器事業
LVH等の孔検査に最適な光学式外観検査装置 『MIYABI 7』へのお問い合わせ
お問い合わせ内容をご記入ください。
