株式会社フィッシャー・インストルメンツ 蛍光X線測定装置『X-RAY XDV-μ WAFER』
- 最終更新日：2024-03-22 14:34:04.0
- 印刷用ページ
ウェハーの膜厚測定と素材分析を自動測定できるよう特別設計された蛍光X線式測定器！
『FISCHERSCOPE X-RAY XDV-μWAFER』は、ポリキャピラリーレンズ搭載の蛍光X線測定装置です。
ウェハーの膜厚測定と素材分析を自動測定できるよう特別に設計された
モデルです。
さまざまな測定における理想的な励起条件を作り出すために、電動式で
切り替え可能な一次フィルターを採用しています。
【特長】
■ユーザーフレンドリーな構造
■革新的なポリキャピラリーレンズを搭載
■高精度で高分解能な検出感度を実現
■再校正に必要な時間や労力を大幅に削減可能
■簡単に膜厚測定と素材分析ができる
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
基本情報蛍光X線測定装置『X-RAY XDV-μ WAFER』
【仕様(抜粋)】
■電源：AC115VまたはMAC230V 50/60Hz
■消費電力：最大120W
■保護クラス：IP40
■外寸：幅680x900x高690mm
■重量：約130kg
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
| 価格帯 | お問い合わせください |
|---|---|
| 納期 | お問い合わせください |
| 用途／実績例 | 【応用例】 ■エレクトロニクス産業や半導体産業などのウェハーの測定 ■薄膜コーティングの分析 (例)＜0.1pmのAuやPd ■品質管理などにおける自動測定 ■多層膜コーティングの測定 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 |
カタログ蛍光X線測定装置『X-RAY XDV-μ WAFER』
取扱企業蛍光X線測定装置『X-RAY XDV-μ WAFER』
-
-
ドイツ／ヘルムート・フィッシャー社製測定器の輸入販売及びそれに付随する精密機器の販売並びに技術サービス （小型膜厚測定器、蛍光X線式膜厚測定・素材分析器、フェライト組織量の測定器、導電率計、微小硬さ試験機など）
蛍光X線測定装置『X-RAY XDV-μ WAFER』へのお問い合わせ
お問い合わせ内容をご記入ください。
