一般財団法人材料科学技術振興財団 MST ご希望者全員プレゼント!表面分析の基礎と分析事例

ご希望者全員プレゼント!表面分析の基礎と分析事例 http://www.ipros.jp/public/product/image/b9d/2000432301/IPROS4334607982951673729.jpg ★掲載内容★  ■表面分析の基礎    ・表面分析とは?    ・表面分析の使い分け    ・XPS分析でできること    ・TOF-SIMS分析でできること    ・XPS,TOF-SIMS分析でできること  ■各手法の詳細情報    ・XPS X線光電子分光法    ・TOF-SIMS 飛行時間型二次イオン質量分析法  ■分析事例    ・XPSによるSiC表面の状態・膜厚評価    ・Cu表面の酸化状態の定量    ・XPS多点測定による広域定量マッピング    ・XPSによるDLCの評価    ・リチウムイオン二次電池におけるLiの結合状態別定量    ・プラズマ処理によるぬれ性変化の原因調査    ・ケミカルシフトによる金属酸化物の価数評価    ・ステンレス不動態皮膜の深さ方向状態評価    ・粘着シートによる電子部品の汚染評価    ・ニッケルめっき剥離面の評価    ・ポリカーボネートの劣化層の評価    ・注射針表面のコーティング膜評価    ・三次元培養ヒト皮膚中インドメタシンの経皮吸収評価  他 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST 測定・分析 > 受託サービス > 受託解析 0
〈XPS・TOF-SIMS〉 表面分析とは何か・表面分析の種類等、基礎的な解説を充実。また表面分析を用いた代表的な事例を掲載。

表面分析のご検討に役立つ基礎解説・分析事例をまとめてご紹介します。
お手元に置いて、分析サービスのご検討にぜひご活用ください。

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基本情報ご希望者全員プレゼント!表面分析の基礎と分析事例

★掲載内容★
 ■表面分析の基礎
   ・表面分析とは?
   ・表面分析の使い分け
   ・XPS分析でできること
   ・TOF-SIMS分析でできること
   ・XPS,TOF-SIMS分析でできること
 ■各手法の詳細情報
   ・XPS X線光電子分光法
   ・TOF-SIMS 飛行時間型二次イオン質量分析法
 ■分析事例
   ・XPSによるSiC表面の状態・膜厚評価
   ・Cu表面の酸化状態の定量
   ・XPS多点測定による広域定量マッピング
   ・XPSによるDLCの評価
   ・リチウムイオン二次電池におけるLiの結合状態別定量
   ・プラズマ処理によるぬれ性変化の原因調査
   ・ケミカルシフトによる金属酸化物の価数評価
   ・ステンレス不動態皮膜の深さ方向状態評価
   ・粘着シートによる電子部品の汚染評価
   ・ニッケルめっき剥離面の評価
   ・ポリカーボネートの劣化層の評価
   ・注射針表面のコーティング膜評価
   ・三次元培養ヒト皮膚中インドメタシンの経皮吸収評価  他

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受託分析サービスで、研究開発を行う皆様をサポートします! 半導体・金属・電池などのエレクトロニクス材料や、医薬品・化粧品・食品・環境などのライフサイエンス分野に幅広く対応。 SIMS・TEM・XRD・ICP-MS・GC/MS・AES・SEM・EPMA・EELSなど、さまざまな分析装置を保有し、分析ニーズに応えます。 まずはご相談下さい。 ◆事業領域◆ 1. 科学技術分野における材料に関する基礎的研究及び解析・評価。 2. 半導体、生理学生化学、バイオ関連分野及び各種先端的分野についての基礎的研究及び解析・評価。 3. 1、2号に掲げる国内外における関連分野の研究機関又は個人に対する表彰及び支援。 4. 1、2号に掲げる研究成果等の出版または出版の支援。 5. 1、2号に掲げる国内外における関連分野の調査。 6. 1、2号に掲げる国内外における関連分野に関する研修の実施及び支援または研修所の運営。 7. その他目的を達成するために必要な事業。

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