株式会社サンコウ電子研究所 SFタンク用超音波式膜厚計 SF-1150
- 最終更新日：2022-03-25 16:56:26.0
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SF二重殻タンクの試験確認に
〇SF二重殻タンクの殻壁内の検知層の接着・隙間状態を外殻板（FRP）表面よりカンタンに検出。
〇FRPの厚さを超音波によって測定
基本情報SFタンク用超音波式膜厚計 SF-1150
測定方式：パルス反射方式（一探蝕子法）
使用周波数：1～2MHz
表示方式：液晶デジタル（EL照明付）
測定範囲：1.0～50.0mm
モード自動切替 (標準／厚板)
測定精度：±0.1mm
音速調整範囲：500～9999m/sec
探蝕子：2C20N-DL型
電源：単3アルカリ乾電池（1.5V）X1
約12時間（EL点灯時約8時間）
使用温度範囲：－10～50℃（結露しないこと）
寸法重量：66（W）×180（H）×28（D）ｍｍ、360g
| 価格帯 | お問い合わせください |
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| 納期 | お問い合わせください |
| 型番・ブランド名 | 超音波式膜厚計 SF-1150 |
| 用途／実績例 | SF二重殻タンクの試験確認に |
取扱企業SFタンク用超音波式膜厚計 SF-1150
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電子応用特殊機器・工業計器の研究開発、製造販売ならびに仕入販売 営業品目： 膜厚計（電磁誘導式／渦電流式／デュアル） ピンホール探知器（高電圧放電式，湿式電気抵抗式） 鉄片探知器（検針器） 鉄筋探査機 水分計（赤外線加熱乾燥式，電気抵抗式） 結露計 他
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