信頼性試験から故障解析レポートまでサポートします！
菱進テックでは、半導体検査（ウエハテスト）サービスを行っています。
自動車向け製品の品質管理として、良品チップの更なる品質向上を行うため、
ウエハテスト結果より分布外れチップを検出し不良化する
OST（Outliers Screening Test）などの技術を提供。
その他に静電気管理や地震対策、信頼性試験などがあります。
【ウエハテストの技術】
■PAT(Part Average Testing)
・目的：テストの個別項目の測定値について、分布を算出、
主分布より外れたデータのチップを不良化
■GAT(Geometric Analysis Testing)
・目的：テスト結果のマップデータにて、ウエハ上の位置的な分布より、
良品分布から外れたチップを検出、不良化
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
基本情報半導体検査（ウエハテスト）サービス御提案書
【菱進テックの特長】
■ご依頼 (サンプル)
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■初期測定
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■信頼性試験
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■試験後測定
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■レポート作成
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■お客様へご報告
◎信頼性試験から故障解析レポートまでサポート
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