プロトマニュファクチュアリング株式会社 高解像度X線回折『AXRD HR』
- 最終更新日：2019-11-19 15:31:06.0
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薄膜および単結晶材料の特性評価のための仕様変更可能な高解像度X線回折計のご紹介
『AXRD HR』は、高い精度と精度を提供するように設計された革新的な
ゴニオメーターを備えている高解像度X線回折です。
X線反射率（XRR）を実行して、薄膜、多層コーティング、および界面の
物理的表面特性を評価できます。高分解能のロッキングカーブを使用して、
エピタキシャル単結晶膜を分析し、バルク単結晶の結晶完全性を決定できます。
また、相互空間マップは、エピタキシャル薄膜に関する貴重な情報を
提供し、歪み膜の分析を可能にします。
【特長】
■高い精度と精度を提供するように設計された革新的なゴニオメーターを
備えている
■モーターおよびエンコーダー技術の新しい進歩を活用
■エピタキシャル薄膜、多層コーティング、および単結晶の高解像度実験を
実行するために必要な機能を備えている
■X線反射率（XRR）を実行して、薄膜、多層コーティング、および界面の
物理的表面特性を評価できる
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
基本情報高解像度X線回折『AXRD HR』
【その他特長】
■高分解能のロッキングカーブを使用して、エピタキシャル単結晶膜を分析し、
バルク単結晶の結晶完全性を決定できる
■相互空間マップは、エピタキシャル薄膜に関する貴重な情報を提供し、歪み膜の分析を
可能にする
■高解像度X線回折アプリケーション向けの卓越した精度
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
| 価格帯 | お問い合わせください |
|---|---|
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| 用途／実績例 | ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 |
カタログ高解像度X線回折『AXRD HR』
取扱企業高解像度X線回折『AXRD HR』
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○残留応力＆残留オーステナイト ○粉末回折 ○ラウエ単結晶オリエンテーション ○X線管球 ○測定サービス
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