ナノ表面粗さ・形状計測器　ナノセブンシスコム（SysCom）

簡単操作、非接触、迅速、高分解能、低価格のナノ表面粗さ、段差形状測定装置。防振台不要でラインでの全数検査も可能。

光ヘテロダイン干渉計測を利用したコンパクトで、振動に強く、高さ分解能が０．１ナノと高精度な測定を提供する表面粗さ・形状測定システム。
計測時間も大幅に短縮でき、防振台不要でラインでの全数検査もできる。
広範囲の計測が可能で多点計測や大型試料にも適用可能。

＜主な特長＞
１）低価格で計測時間の大幅短縮
２）高分解能　高さ方向０．１ナノでAFMと互換性保持
３）試料対象物への前処理や真空不要の簡単計測で防振台も不要
４）広範囲計測可能
５）光ヘテロダイン干渉計測で外部からの振動を相殺　等

基本情報ナノ表面粗さ・形状計測器　ナノセブン

計測方式：光ヘテロダイン干渉計測
高さ分解能：０．1ｎｍ
基準高さ計測範囲：０．５～３００ｎｍ
基準計測範囲：X軸４５ｍｍ　Y軸４５ｍｍ
粗さ Ra：０．１～５０ｎｍ、段差１～１５０ｎｍ
スクラッチ、形状等
本体寸法：W３１３ｘD６１４ｘH４２８ｍｍ、重量２７Ｋｇ

価格帯	500万円 ~ 1000万円
納期	お問い合わせください ※2-3ケ月
型番・ブランド名	ナノセブン　TN-A1
用途／実績例	エレクトロニクス、半導体、自動車、マイクロテクノロジー、フィルム精密工学、医療分野、データストレージ、セラミック・・・・

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取扱企業ナノ表面粗さ・形状計測器　ナノセブン

有限会社シスコム（SysCom）

■分析評価装置各種■ ＊ポリマー硬化自動測定装置（誘電分析）＊動的粘弾性測定装置（レオメータ）（小型・高機能・低価格）＊レーザーホログラフィー振動変位解析装置＊ナノ表面粗さ・高さの高精度測定装置（ナノセブン） ■センサ機器各種■ ＊温度・湿度＊加速度＊熱電対センサ（温度）＊風速温度センサシステム＊触覚センサシステム ■その他■ ＊小型加振器＊振動コントローラー＊プロバー＆プローブ針 ◆その他、新規ロガーの開発やカスタムにも対応しております。