薄膜・微細領域も高精度かつ短時間で測定する蛍光X線膜厚測定装置をご紹介 ※技術資料進呈
電子機器や自動車などの最終製品の進化によって、そこに搭載される部品の
高機能化・高性能化が求められるようになっています。
部品メーカーにとっては、今後も市場のニーズに対応し続けるため、
その品物の品質管理を考え直す必要があります。
当資料では、蛍光X線膜厚測定装置についてご紹介。
蛍光X線による分析・測定は非破壊で、前処理などの必要もなく、
短時間で結果を得ることが可能です。
ぜひ、ご一読ください。
【掲載内容】
■エレクトロニクスを中心とした技術革新により
部品製造における品質管理が課題に
■膜厚の測定には高度な精度や高い運用性が求められるように
■蛍光X線を用いた膜厚測定が有効に
■非破壊で高精度な測定・分析を実現する製品を提供
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基本情報【資料】高機能・高性能化が進む電子部品等の新たな品質管理のあり方
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カタログ【資料】高機能・高性能化が進む電子部品等の新たな品質管理のあり方
取扱企業【資料】高機能・高性能化が進む電子部品等の新たな品質管理のあり方
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