CCTECH Japan 半導体マクロ検査装置（iFocus)
- 最終更新日：2021-03-09 14:34:46.0
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特許取得のOTF(On the Fly)技術をを使用し、検査用カメラを２台使用し、明暗視野を同時に撮像することにより、検査工程に価格時間を1/2に短縮。また、３Dの検査も可能し、WLSCPパッケージ等に使用されるバンプのコプラナリティの検査を可能にします。
基本情報半導体マクロ検査装置（iFocus)
★２つの搬送アームを使用するため、全体ウェハ、切り込みウェハに対し、ハードウェアの変更なしで使用することが可能。
★２台のカメラを同時に使用することにより検査工程のタクトタイムが半減。
★３D検査によりWLCSPパッケージなどに使用されるバンプのコプラナリティを検査。
★自動欠陥レビュー機能
★Waferのミスアライメントを自動補正
| 価格帯 | お問い合わせください |
|---|---|
| 納期 | お問い合わせください |
| 用途／実績例 | 半導体の前、後工程の外観検査 異物、クラック、パーティクル、チッピングの外観検査 パッケージのバンプのコプラナリティの検査 |
詳細情報半導体マクロ検査装置（iFocus)
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★２つの搬送アームを使用するため、全体ウェハ、切り込みウェハに対し、ハードウェアの変更なしで使用することが可能。
★２台のカメラを同時に使用することにより検査工程のタクトタイムが半減。
★３D検査によりWLCSPパッケージなどに使用されるバンプのコプラナリティを検査。
★自動欠陥レビュー機能
★Waferのミスアライメントを自動補正
カタログ半導体マクロ検査装置（iFocus)
取扱企業半導体マクロ検査装置（iFocus)
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CCTECH Japan CCTECH Japan（株）- 日本法人
事業内容は主に ★半導体ウェハー上で検査するために必要なプローバー、テスター、ハンドラー ★モジュール検査用のデジタル検査装置 ★Wafer上の各ダイがムラなく均一に製造されているか確認できる外観装置。 ★Wafer上の前工程で異物やパーティクルなどを確認する外観装置 などをご提供しております。 製品は、既存で準備している製品から、お客様の要望に基づき、検査装置をカスタム開発することも行っており、スタートアップかつ、若手Engineerが多く活躍する非常に柔軟な対応のできる企業になります。新規工場設立の際の検査装置の導入から、既存ラインで、人的外観検査を行っている部分へ外観検査装置を導入することで、検査の精度を上げつつ、経費を削減できることを可能にします。現在人的に検査をしている作業を自動化させるための製品を提供しております。
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