CCTECH Japan 半導体重力式テストハンドラ C8/C9シリーズ
- 最終更新日：2021-03-02 11:00:05.0
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半導体検査装置へ部品を搬送するには、スループットが重要な選定項目になります。CCTECHのC8、C9シリーズは重力式の搬送装置、ハンドラーになります。C8シリーズは搬送のみ、C9シリーズは搬送と外観検査両方をサポートしております。外観検査は２つのカメラを使用し、半導体パッケージの外観を検査します。
基本情報半導体重力式テストハンドラ C8/C9シリーズ
● スループット：
〇 C8：7000 ~ 25000 UPH
〇 C9：10000 ~ 14000 UPH
● ジャムレート：<1/5000
● 筐体サイズ：(LWH)
〇 C8:890x810x1830
〇 C8H: 1150x1040x2480
〇 C9D:790x1710x2440
〇 C9S:1550x1560x2160
〇 C9P:1550x1710x2480
詳細はカタログに記載しております。そのほか、ご質問などありましたら、個別にご連絡いただけましたら、ご回答させていただきます。
| 価格帯 | お問い合わせください |
|---|---|
| 納期 | お問い合わせください |
| 用途／実績例 | 半導体の電気的特性の検査装置へスムーズかつ高速に部品を搬送する装置、ハンドラーで、中国のOSAT関連メーカーに多数使用されております。CCTECHとして半導体の検査装置を開発製造しており、そこへ接続されるケースもあれば、他社メーカーの検査装置へ接続することも多々あります。半導体の電気的特性を検査したのち、部品をトレーやテーピングへと梱包する際に、最終外観検査を行う必要があり、搬送と外観検査を両方必要とされるケースにC9シリーズが使用され、外観検査を特に必要としないケースではC8シリーズが使用されます。 |
詳細情報半導体重力式テストハンドラ C8/C9シリーズ
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CCTECH C8/C9 半導体テストハンドラー
カタログ半導体重力式テストハンドラ C8/C9シリーズ
取扱企業半導体重力式テストハンドラ C8/C9シリーズ
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CCTECH Japan CCTECH Japan（株）- 日本法人
事業内容は主に ★半導体ウェハー上で検査するために必要なプローバー、テスター、ハンドラー ★モジュール検査用のデジタル検査装置 ★Wafer上の各ダイがムラなく均一に製造されているか確認できる外観装置。 ★Wafer上の前工程で異物やパーティクルなどを確認する外観装置 などをご提供しております。 製品は、既存で準備している製品から、お客様の要望に基づき、検査装置をカスタム開発することも行っており、スタートアップかつ、若手Engineerが多く活躍する非常に柔軟な対応のできる企業になります。新規工場設立の際の検査装置の導入から、既存ラインで、人的外観検査を行っている部分へ外観検査装置を導入することで、検査の精度を上げつつ、経費を削減できることを可能にします。現在人的に検査をしている作業を自動化させるための製品を提供しております。
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