東芝ＩＴコントロールシステム株式会社 マイクロフォーカスX線透視検査装置『TXV-CH4090FD』
- 最終更新日：2021-05-17 14:46:15.0
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実装基板の半田検査に最適。斜め方向からの観察も可能。
＜仕様＞
・X線装置：90kV 焦点：5μm
・テーブルサイズ：400×350mm
・傾斜角度：0～60度
・倍率：10～160倍
＜特長＞
・メンテナンスフリーな密閉管型マイクロフォーカスを搭載。
・画像表現能力が高く、歪みの無い鮮明な画像が得られるフラットパネル型センサを搭載。
・傾斜撮影により斜め方向から観察可能。また、傾斜撮影時は観察ポイントを逃さない追従機能を装備。
・BGAボイド計測ソフト搭載。
・PC画面上ですべて操作できる快適なユーザインタフェース
・設置場所を選ばないコンパクト設計
基本情報マイクロフォーカスX線透視検査装置『TXV-CH4090FD』
実装基板の半田検査に最適なシステム。フラットパネルセンサの搭載で、歪みのない鮮明な画像が得られます。センサが60度まで傾斜し、斜め方向からの観察が可能です。優れたユーザインタフェースにより簡単で効率的な検査が可能です。
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| 型番・ブランド名 | TXV-CH4090FD |
| 用途／実績例 | ・実装基板の半田検査 ・BGAのボイド計測 ・その他 幅広い用途に使用可能です |
カタログマイクロフォーカスX線透視検査装置『TXV-CH4090FD』
取扱企業マイクロフォーカスX線透視検査装置『TXV-CH4090FD』
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産業用・公共用の制御システムのシステムエンジニアリングからハード・ソフト開発・設計、および中小制御システム、パワーエレクトロニクス、Ｘ線非破壊検査システムなどの設計・製造・販売・サービス。
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