Apple社 U1チップで有名な「UWB IEEE 802.15.4z」およびFiRa UWBの「OTA試験ソリューション」
・Apple社 U1チップでの「UWB IEEE 802.15.4z」応用製品試験
・FiRa (fine-ranging) UWB 製品試験
・UWB LIN gateway 製品試験
・UWB CAN gateway 製品試験
・アンテナカプラ応用の「OTA試験ソリューション」
・開発フェーズでの「OTA試験」
・量産フェーズでの「OTA試験」手動～自動検査（シールドボックス）
開発フェーズ R&D自席での製品開発に貢献します。
・場所を取らない「省スペースでのOTA試験」
量産製造フェーズ 検査コストの削減に貢献します。
・OTA試験環境により検査時間短縮（タクトタイム短縮）
・検査工程の省スペース化
・自動化
・非接触による試験
※OTA試験とは、
被測定物の特性評価を「同軸コネクタ／ケーブル」接続ではなく、無線（Over The Air）接続で行うこと。非接触で送受信の試験を行うことが可能です。
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基本情報【UWB】IEEE 802.15.4z／FiRa 製品検査
※アンテナカプラ組込みシールドボックス「OTA試験環境」
・場所を取らない「省スペースでのOTA試験」
・検査時間短縮
・タクトタイム短縮
・省スペース
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| 用途／実績例 | 国際特許「近くで測る」アンテナカプラを応用製品 アンテナカプラを使用した「小型ＯＴＡ試験環境」も特許取得済。 ・IEEE 802.15.4z UWB 応用製品試験 ・FiRa (fine-ranging) UWB 製品試験 ・UWB LIN gateway 製品試験 ・UWB CAN gateway 製品試験 ・UWB スマホ決済、タグ 応用製品 ・UWB 空間認識、AR 応用製品 ・Time-of-Flight Distance Measurement |
カタログ【UWB】IEEE 802.15.4z／FiRa 製品検査
取扱企業【UWB】IEEE 802.15.4z／FiRa 製品検査
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5G,6G,Wi-Fi6などミリ波領域までの高周波、メカトロニクス、製造・試験治具、電気回路設計、ソフトウエアなどの多岐にわたるノウハウや技術をお客様のニーズに合わせて組み合わせて提供します。 ５G／ローカル５Ｇ関係： ・５G／ローカル５G／LTE／Wi-Fi／BT等のOTA試験環境 ・アンテナカプラ 600MHz-80GHz, x1 x2 x4 x8のMIMO対応多ポート各種 ・シールドボックス A4サイズから、基地局収納のタイプまで20種以上 端末画面の視野性の良い「シールド窓」付き、素手操作可能な「ハンドインタイプ」まで多彩なラインナップ ・極細RFケーブルシリーズ ～110GHz ・基地局／端末の製造・検査工程用治具＆RFスイッチボックス EMC可視化シリーズ： ・WM7000シリーズ ＥＭＣノイズスキャナ 受託試験、無料測定(2h)実施 ・WM7000-TD タイムドメイン（時間軸）測定システム ・WM7000-3D ３次元電磁界測定化システム ・WM9500シリーズ ３次元空間電磁界可視化システム 受託試験、無料測定(2h)実施
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