ユーロフィンイーエージー株式会社 【受託サービス】LSIの故障解析サービス
- 最終更新日:2022-03-25 17:42:05.0
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さまざまな電子部品/機器の故障解析/分析・外部購入品の良品検査・信頼性評価/環境試験析を行ってきた専門ラボでの受託サービスになります。
基本情報【受託サービス】LSIの故障解析サービス
<サービス特徴>
・ラボの前身は大手電子機器メーカーの外部購入品・品質保証部門でした。多数のサプライヤーのLSIの受入検査/故障解析を実施してきた実績を活かし、多種多様のLSIの開封/故障解析を実施します。
<サービスの流れ>
1.お客様からの事前情報をもとに、まずは解析実績から故障原因を推定し最適な解決方法をご提案いたします。
2.お客様からのご了承いただきた後、解析作業に入ります。解析途中で問題が生じた際にはただちにお客様にご報告いたします。お客様は解析の途中でもサービスを中断することができます(差額が生じる場合は再度お見積りいたします)。
3.一連の作業終了後に報告書をご提出いたします。
また、また追加解析をご要望の際は原因究明までサポートいたします。
価格帯 | お問い合わせください |
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納期 | お問い合わせください |
用途/実績例 | ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 |
カタログ【受託サービス】LSIの故障解析サービス
取扱企業【受託サービス】LSIの故障解析サービス
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【信頼性評価/故障解析サービス】 ・電子部品/機器の信頼性評価/環境試験 ・電子部品/機器の故障解析/良品検査 ・X線CT/透過装置/超音波探傷での非破壊検査 【分析サービス】 ◆ 不純物分析(定量、定性、面内分布、キャリア濃度、汚染など) ・SIMS、PCOR-SIMS(二次イオン質量分析) ・GDMS(グロー放電質量分析) ・ICP-MS(誘導結合プラズマ質量分析) ◆ 組成分析(組成、膜厚、密度、結合状態、微小異物、マッピングなど) ・TEM/STEM-EDS / EELS(透過型電子顕微鏡) ・RBS/HFS(ラザフォード後方散乱分析/水素前方散乱分析) ・XPS/ESCA(X線光電子分光分析)・XRR(X線反射率測定)など ◆ 形態観察/構造解析(形状、膜厚、構造、欠陥観察、結晶性、結合状態など) ・3D-APT(3次元アトムプローブ) ・TEM/STEM(透過型電子顕微鏡) ・FIB/SEM(集束イオンビーム/走査型電子顕微鏡) ◆ ORS社分析サービス 気密性試験 ・IVA/HR-IVA分析(半導体などの封止パッケージ内の水分量/ガス成分分析)
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