ユーロフィンイーエージー株式会社 ロゴ

ユーロフィンイーエージー株式会社

      ユーロフィンイーエージー株式会社 企業イメージ

      ユーロフィンイーエージー株式会社 企業イメージ

      材料から半導体の高度分析、電子部品/機器の環境試験・信頼性評価・故障解析を実施。特にTEM/SIMS分析はお任せください。

      【ユーロフィンイーエージーとは】
      全世界に20箇所以上の分析/試験ラボを持つ受託サービス企業です。
      所有設備は2500台以上となり、すべての分析は高品質・短納期(8営業日~)で分析結果をお届けしています。

      ・TEM/SIMS/GDMSを中心に高度材料・半導体分析を得意とした受託サービスを実施
      ・TEMは装置を20台以上所有し、短納期対応(納期:約6~8営業日)
      ・SIMSはマトリックス効果を抑えた独自サービスPCOR-SIMSも実施
      ・ GDMSは全元素を標準試料なしで高感度分析を実現

      【更に…】
      ・2021年、国内に信頼性評価/環境試験/故障解析を専門としたラボを開設
      ・100台以上の試験層を所有、年間2000件以上の信頼性評価・200件以上の故障解析の実績

      事業内容

      【信頼性評価/故障解析サービス】
      ・電子部品/機器の信頼性評価/環境試験
      ・電子部品/機器の故障解析/良品検査
      ・X線CT/透過装置/超音波探傷での非破壊検査

      【分析サービス】
      ◆ 不純物分析(定量、定性、面内分布、キャリア濃度、汚染など)
      ・SIMS、PCOR-SIMS(二次イオン質量分析)
      ・GDMS(グロー放電質量分析)
      ・ICP-MS(誘導結合プラズマ質量分析)

      ◆ 組成分析(組成、膜厚、密度、結合状態、微小異物、マッピングなど)
      ・TEM/STEM-EDS / EELS(透過型電子顕微鏡)
      ・RBS/HFS(ラザフォード後方散乱分析/水素前方散乱分析)
      ・XPS/ESCA(X線光電子分光分析)・XRR(X線反射率測定)など

      ◆ 形態観察/構造解析(形状、膜厚、構造、欠陥観察、結晶性、結合状態など)
      ・3D-APT(3次元アトムプローブ)
      ・TEM/STEM(透過型電子顕微鏡)
      ・FIB/SEM(集束イオンビーム/走査型電子顕微鏡)

      ◆ ORS社分析サービス 気密性試験
      ・IVA/HR-IVA分析(半導体などの封止パッケージ内の水分量/ガス成分分析)

      詳細情報

      製品・サービス(4件)一覧

      カタログ(4件)一覧

      ニュース(3件)一覧

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