ナノサイエンス株式会社 EAG ロゴ

ナノサイエンス株式会社 EAG

      ナノサイエンス株式会社 EAG 企業イメージ

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      SIMS,TEMをはじめとする各種表面受託分析サービス

      各種表面分析ならナノサイエンス株式会社にお任せ下さい。
      ナノサイエンス株式会社はEAG.Incの日本法人です。

      【弊社の特徴】
      〇EAG.Inc は1982年に世界で最初にSIMS分析サービスをスタート
      〇SIMS分野で世界をリード!
      〇材料ごとに管理された40台以上のSIMS装置による超高感度分析の実現!
      〇7000種類以上の膨大な標準試料を保有
      〇TEMの納期はルーチンで8営業日を実現
      〇各種分析手法のデータ速報はルーチンで6-8営業日

      原料・材料等の分析からデバイス開発、故障解析から製品管理に至る分析まで、経験豊富な技術スタッフが適切な手法のご提案、データ解釈まで責任持って対応します!

      事業内容

      【表面分析受託サービス】
      ■不純物分析(定量、定性、面内分布、キャリア濃度、汚染、有機物など)
      ・SIMS(二次イオン質量分析)
      ・TOF-SIMS(飛行時間型二次イオン質量分析)
      ・GDMS(グロー放電質量分析)
      ・SRA(SiまたはGe半導体材料中の広がり抵抗測定)など

      ■組成分析(組成、膜厚、密度、結合状態、微小異物、マッピングなど)
      ・TEM/STEM-EDS(透過型電子顕微鏡)
      ・RBS/HFS(ラザフォード後方散乱分析/水素前方散乱分析)
      ・XPS/ESCA(X線光電子分光分析)・XRR(X線反射率測定)など

      ■形態観察/構造解析(形状、膜厚、構造、欠陥観察、結晶性、結合状態など)
      ・TEM/STEM(透過型電子顕微鏡)
      ・CL(カソードルミネッサンス)
      ・FIB/SEM(集束イオンビーム/走査型電子顕微鏡)
      ・AFM(原子間力顕微鏡)など

      【その他】
      ■ORS社分析サービス 気密性試験
      ・IVA分析/HR-IVA分析(半導体などの封止パッケージ内の水分量、ガス成分分析)
      ・半導体などの封止パッケージの気密性試験

      詳細情報

      製品・サービス(69件)一覧

      カタログ(54件)一覧

      ニュース(1件)一覧

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