【受託サービス】フラットパネルディスプレイ評価／故障解析サービスユーロフィンイーエージー

長年ものづくりに携わって来た経験豊富なラボ技術者が解析はもちろん、あらゆる品質改善にいたるまでお客様をサポートします。

さまざまな電子部品／機器の故障解析／分析・外部購入品の良品検査・信頼性評価／環境試験析を行ってきた専門ラボでの受託サービスになります。

基本情報【受託サービス】フラットパネルディスプレイ評価／故障解析サービス

＜評価／故障解析サービス事例＞
【評価事例】
◆耐候性試験（サンシャインウェザー）
・屋外仕様を想定して耐候性試験を実施。
・ディプレイ－タッチパネルの張り合わせに使用している接着剤に紫外線を照射すると気泡が発生。
【故障解析事例】
◆ディスプレイの不具合調査
・不具合箇所の積層パターンを確認することで故障解析の原因を解析。

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用途／実績例	※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

カタログ【受託サービス】フラットパネルディスプレイ評価／故障解析サービス

【受託サービス】フラットパネルディスプレイの評価／故障解析サービス

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取扱企業【受託サービス】フラットパネルディスプレイ評価／故障解析サービス

ユーロフィンイーエージー株式会社

【信頼性評価/故障解析サービス】・電子部品/機器の信頼性評価/環境試験・電子部品/機器の故障解析/良品検査・X線CT/透過装置/超音波探傷での非破壊検査【分析サービス】 ◆ 不純物分析(定量、定性、面内分布、キャリア濃度、汚染など) ・SIMS、PCOR-SIMS（二次イオン質量分析）・GDMS（グロー放電質量分析）・ICP-MS（誘導結合プラズマ質量分析） ◆ 組成分析(組成、膜厚、密度、結合状態、微小異物、マッピングなど) ・TEM/STEM-EDS / EELS（透過型電子顕微鏡）・RBS/HFS（ラザフォード後方散乱分析/水素前方散乱分析）・XPS/ESCA（X線光電子分光分析）・XRR（X線反射率測定）など ◆ 形態観察/構造解析(形状、膜厚、構造、欠陥観察、結晶性、結合状態など) ・3D-APT（3次元アトムプローブ）・TEM/STEM（透過型電子顕微鏡）・FIB/SEM（集束イオンビーム/走査型電子顕微鏡） ◆ ORS社分析サービス気密性試験・IVA/HR-IVA分析（半導体などの封止パッケージ内の水分量/ガス成分分析）