掲載開始日：2018-04-24 00:00:00.0
ナノサイエンスはSISS-20とSIMS研究会11をサポートしています！
◎SISS-20
開催日：2018年6月28日～29日
◎SIMS研究会11（SIMS基礎講座）
開催日：2018年6月27日10:00～17:30 (9:15受付開始)
〇SISS-20附設講座：SIMS基礎講座
*SISS-20ご参加登録の方は無料で聴講可能です。~
〇内容：SIMSを判り易く、また基礎から学べる講座を開催いたします。
〇場所：成蹊大学 10号館 4階 大会議室
〇プログラム【3】
14:00-15:10 1) Static SIMS応用
JSR株式会社 植野富和氏
2) Dynamic SIMS応用
株式会社ナノサイエンス 新宮一恵氏
取扱会社
【信頼性評価/故障解析サービス】 ・電子部品/機器の信頼性評価/環境試験 ・電子部品/機器の故障解析/良品検査 ・X線CT/透過装置/超音波探傷での非破壊検査 【分析サービス】 ◆ 不純物分析(定量、定性、面内分布、キャリア濃度、汚染など) ・SIMS、PCOR-SIMS（二次イオン質量分析） ・GDMS（グロー放電質量分析） ・ICP-MS（誘導結合プラズマ質量分析） ◆ 組成分析(組成、膜厚、密度、結合状態、微小異物、マッピングなど) ・TEM/STEM-EDS / EELS（透過型電子顕微鏡） ・RBS/HFS（ラザフォード後方散乱分析/水素前方散乱分析） ・XPS/ESCA（X線光電子分光分析）・XRR（X線反射率測定）など ◆ 形態観察/構造解析(形状、膜厚、構造、欠陥観察、結晶性、結合状態など) ・3D-APT（3次元アトムプローブ） ・TEM/STEM（透過型電子顕微鏡） ・FIB/SEM（集束イオンビーム/走査型電子顕微鏡） ◆ ORS社分析サービス 気密性試験 ・IVA/HR-IVA分析（半導体などの封止パッケージ内の水分量/ガス成分分析）
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