株式会社Wave Technology 【資料】しるとくレポNo.52#アバランシェ試験(1)

アバランシェ降伏、UIS試験回路と波形など!パワーMOSFETのアバランシェ耐量試験について解説

★★しるとくレポ 知って得するお役立ち情報★★
アバランシェ試験で測定するアバランシェ耐量とは、パワーデバイスに
耐電圧以上の電圧を印加していくと急激に電流が流れはじめ破壊に至って
しまうのですが、どのくらいのエネルギーまで耐えられるかということを指します。

当レポートでは、アバランシェ降伏やUIS試験回路と波形について
図を用いて解説。

万が一アバランシェモードに入った場合であっても問題ないかを
検証するために、パワエレ回路設計を行う際にはパワーMOSFETの
アバランシェ耐量を調べておく必要があります。

【掲載内容】
■アバランシェ降伏のイメージ図
■アバランシェ耐量を測定する試験回路と波形

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半導体およびその応用製品の開発・設計 ◇高周波・光半導体の設計・開発 ◇筐体・機構設計、シミュレーション ◇パワーエレクトロニクス関連設計・開発 ◇アナログ・デジタル電気回路の設計・開発 ◇カスタム計測システム設計、半導体パッケージ設計

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