微小部X線回折測定川重テクノロジー

X線モノキャピラリと半導体検出器との組み合わせ！微小領域の構造解析や微小部分析の測定速度を大幅に向上

X線回折（XRD）は、結晶性物質にX線を照射したときに起こる回折現象を
ピークとして捉え、そのパターン、ピーク幅、強度等からその物質の
化合物種の同定や結晶構造に関する情報を得ることが出来ます。

「微小部X線回折装置」では、X線モノキャピラリと半導体検出器との
組み合わせにより、微小領域の構造解析や微小部分析の測定速度を
大幅に向上。

微小物質の化合物形態、残留応力測定等の微小部分における各種調査に
応用出来ます。また、モノキャピラリにより、照射X線を100μmまで
絞ることで、サンプルを100μmの領域で構造解析することが可能です。

モノキャピラリは、全反射によってX線を取り出すため、X線の減衰が
少なく微小部分析に有効です

【特長】
■微小部分における各種調査に応用可能
■サンプルを100μmの領域で構造解析することが可能
■X線の減衰が少なく微小部分析に有効
■特定部位における測定に有効

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特設サイト

基本情報微小部X線回折測定

【測定例】
■内容
　・装置部品に発⽣した微細なスケールを分析
■結果
　・試料⾯上の特定部位における測定に、微⼩部X 線回折が有効であると考えられる

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取扱企業微小部X線回折測定

川重テクノロジー株式会社

化学分析、物性測定、環境分析、作業環境測定、材料試験、材料使用特性評価試験、材料ミクロ組織調査、応力測定、疲労試験、振動試験、振動・騒音計測、構造解析、熱流体解析、CAEシステム開発、製品・装置の開発・改良・環境適合性評価のための試験受託、計測・制御システム開発、ロボット・メカトロシステム開発、エレクトロニクス製品開発