株式会社ASICON X線タルボ･ロー干渉計キット Talint-EDU
- 最終更新日：2023-09-08 12:47:02.0
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[タルボ･ロー干渉計とは]
実験室のX線管を使用可能なタルボ･ロー(Talbot-Lau)型のX線干渉計を用いて，
･透過像(吸収)
･微分位相像(屈折)
･暗視野像(小角散乱)
が取得できます。
これら複数のモーダルを用いることで，これまでのX線画像では確認できなかったサンプルの内部構造や表面構造が把握できます。
非破壊検査や物質の構造調査，食品等の異物検査，また医療の分野にて応用されています。
[製品･サービスの特徴]
X線管と検出器を保有するラボに本キットを組み込むことで，X線タルボ･ロー干渉計を容易に導入することができます。
X線回折格子(吸収格子2枚，位相格子1枚)，格子のホルダとステージ，ステッピングモータからなるシンプルな構成です。キットを組み立てた後に，モアレ縞が検出器ですぐに確認できます。
オプション: サンプルの撮像を行っています。
基本情報X線タルボ･ロー干渉計キット Talint-EDU
[Talint-EDU共通]
外形: 600 mm x 150 mm x 200 mm
G0-G1距離: 290 mm
G1-G2距離: 290 mm
FOV: 直径70 mm
ビジビリティ: > 20%
[40 keV用]
回折格子周期(G0，G1，G2共通): 6.0 µm
吸収格子の金の厚さ: > 120 µm
[20.8 keV用]
回折格子周期(G0，G1，G2共通): 4.8 µm
吸収格子の金の厚さ: > 40 µm
20.8 keV用と40 keV用が標準品。個々の用途に応じた回折格子のカスタマイズは応相談。
| 価格帯 | お問い合わせください |
|---|---|
| 納期 | お問い合わせください |
| 型番・ブランド名 | microworks Talint-EDU |
| 用途／実績例 | Aishwarya Nafre et al., TALINT grating kits for X-ray interferometry in the industrial laboratory, 11th Conference on Industrial Computed Tomography, Wels, Austria (iCT 2022) |
詳細情報X線タルボ･ロー干渉計キット Talint-EDU
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タルボ･ロー干渉計撮像例。チタン粉末から製造されたベローズ格子構造
左：全体の写真，中央: 吸収像，右: 暗視野コントラスト像。
矢印はラメラ内の残留物。
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タルボ･ロー干渉計撮像例。
右端(暗視野像): 亀裂損傷によって引き起こされた散乱(矢印の箇所)が確認できる。
左隣の吸収コントラスト像(透過像)では，これらの亀裂はまったく見ることができない。
サンプルサイズ: 30 mm x 9 mm x 2 mm
カタログX線タルボ･ロー干渉計キット Talint-EDU
取扱企業X線タルボ･ロー干渉計キット Talint-EDU
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【X線光学: Talbot-Lau干渉計キット】/【マイクロ流体: チップと送液装置】 微細加工技術に基づいた，ライフサイエンス向けの製品を販売しています。X線光学ではX線マイクロビームを形成する集光レンズや，X線位相像，X線小角散乱をX線透過像に加えて撮像できるタルボ･ロー干渉計のキットを提供しています。マイクロ流体分野では，マイクロ流体チップ(マイクロ流路を持つポリマー製のチップ)と，高精度な送液装置(ポンプ類)を御紹介しています。X線光学，マイクロ流体のいずれの分野でも，カタログ製品とカスタマイズサービスを取り揃えています。
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