アンシス・ジャパン株式会社 【技術記事】バルク散乱をモデル化する方法

Henyey-Greenstein 分布を使用したバルク散乱をモデル化する方法

このブログ記事では、OpticStudio 付属のユーザー定義 DLL を使用してノンシーケンシャル モードで Henyey-Greenstein バルク散乱をモデル化する方法について解説します。このモデルの基盤となっている理論について簡単に説明し、DLL を使用した光学系の解析例を 2 つ紹介します。

※記事の続きは関連リンクでご覧ください。

基本情報【技術記事】バルク散乱をモデル化する方法

※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

価格情報 お問い合せ下さい
納期 お問い合わせください
※お問い合せ下さい
用途/実績例 ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

カタログ【技術記事】バルク散乱をモデル化する方法

取扱企業【技術記事】バルク散乱をモデル化する方法

corporate-image.JPG

アンシス・ジャパン株式会社

・CAE(数値解析)ソフトウェアの販売およびサポート ・CAEのコンサルティングおよび受託解析 登録することにより、この プライバシー通知 (https://www.ansys.com/ja-jp/legal/terms-and-conditions) に準拠して、この事象/資産および関連するコミュニケーションを提供する目的で、これらの 条件 (https://www.ansys.com/ja-jp/legal/privacy-notice)および個人データの処理に同意したことになります。

【技術記事】バルク散乱をモデル化する方法へのお問い合わせ

お問い合わせ内容をご記入ください。

至急度必須
ご要望必須

  • あと文字入力できます。

目的必須
添付資料
お問い合わせ内容

あと文字入力できます。

【ご利用上の注意】
お問い合わせフォームを利用した広告宣伝等の行為は利用規約により禁止しております。

はじめてイプロスをご利用の方 はじめてイプロスをご利用の方 すでに会員の方はこちら

イプロス会員(無料)になると、情報掲載の企業に直接お問い合わせすることができます。

※お問い合わせをすると、以下の出展者へ会員情報(会社名、部署名、所在地、氏名、TEL、FAX、メールアドレス)が通知されること、また以下の出展者からの電子メール広告を受信することに同意したこととなります。

アンシス・ジャパン株式会社

【技術記事】バルク散乱をモデル化する方法 が登録されているカテゴリ