ダイトロン株式会社 高機能外観検査システム

高機能なHALCONライブラリが使用可能!お客さまの仕様に合わせた選択ができます

当社が取り扱っている『高機能外観検査システム』をご紹介します。

HALCONベースによる画像処理をドラッグ&ペーストでフロー作成でき、
プログラミングの知識がなくても高機能なHALCONライブラリが使用可能。

また、1μm以下のエッジ欠陥や傷の検出(20X時)を行え、任意の仮想ラインからの
カケ、はみ出しのエッジ検査ができます。

【特長】
■高倍率レンズ使用時においても高速にて深度の深い画像が得られる
■傾斜したワークにおいて平面補正も行える
■1μm以下のエッジ欠陥や傷の検出が可能
■任意の仮想ラインからのカケ、はみ出しのエッジ検査が行える
■HALCONベースによる画像処理をドラッグ&ペーストでフロー作成が可能

※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

基本情報高機能外観検査システム

【標準検査仕様(一部)】
■画像合成
 ・任意ピッチによるZ軸画像合成機能、傾き補正合成
 ・2ポジションフォーカス画像合成、凹凸判別、平面合成
■位置決め:パターンマッチング(輪郭/正規相関)、エッジ位置、ペアエッジ、円位置、位置補正
■識別:OCR、2次元コード
■検査:トレンドエッジ、深さ検査、色抽出、ブロブ、動的しきい値、特徴抽出、欠陥抽出
■計測:フォーカス画像取得、各種寸法測定ツール

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価格帯 お問い合わせください
納期 お問い合わせください
用途/実績例 ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

取扱企業高機能外観検査システム

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ダイトロン株式会社

電子部品&アセンブリ商品、半導体、エンベデッドシステム、電源 機器、画像関連機器・部品、情報システム、光デバイス製造装置、 LSI製造装置、フラットパネルディスプレイ製造装置、電子材料 製造装置、エネルギーデバイス製造装置 等の販売 上記製品の輸出入業務

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