蛍光X線式膜厚測定・分析器『X-RAY XDV-SDD』フィッシャー・インストルメンツ

新開発のデジタルパルスプロセッサー（DPP+）搭載の新型モデル！高性能で万能型。研究開発、工程解析、実験室などに好適！

『X-RAY XDV-SDD』は、非常に薄い皮膜の自動測定や
微量分析ができる蛍光X線式測定器です。

大きなセンシング面積と高いエネルギー分解能を持つシリコンドリフトディテクター(SDD)を検出器に採用。
大口径のコリメーターと組み合わせると非常に大きなカウント数が
得られ、優れた再現性と非常に低い検出限界が実現できます。

★新開発のデジタルパルスプロセッサー(DPP＋)を搭載
従来のDPPに比べ最大50％性能向上し、測定時間の短縮に貢献します。

【特長】
■電動ステージ付き
■非常に薄い皮膜の自動測定や微量分析ができる
■シリコン・ドリフト・ディテクター(SDD)をX線検出器に採用
■高い凡用性
■レーザーポイントが測定位置を表示し位置決めが容易

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

基本情報蛍光X線式膜厚測定・分析器『X-RAY XDV-SDD』

【仕様(抜粋)】
■測定元素範囲：Al(13)～U(92)
■X線検出器：シリコンドリフト検出器(SDD)
■X線管球：マイクロフォーカスチューブ
■プライマリフィルター：6種類
■本体寸法：660×835×720mm(幅×奥行×高さ)
■測定チャンバー内寸：580×560×145mm(幅×奥行×高さ)
■重量：約140kg
■消費電力：最大120W

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用途／実績例	【用途例】 ■極薄膜や多層膜の検査（電子・半導体産業など） ■トレース分析（RoHS、玩具、包装材基準のための有害物質検査など） ■NiPの組成分析、厚さ測定 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。