・溶液中の化合物は多様なため、規格に従いイオン種がNaClであると仮定してNaCl / cm²で換算します。
・汚染度の測定をスタティック法で行うことができます。
・装置の測定精度は高く0.0001 µS/cm レベルまで測定します。
・同時にパーツを洗浄し、イオン樹脂フィルタで洗浄液をリサイクルするので環境汚染を最低限に抑えることができます。
・以下の国際的な規格に適合しています:
‐Mil-P-28809 et Mil-STD-2000A (USA)
-Defene Standard 10/03 (UK)
-IPC-TR-583
・0.4L, 8L, 40Lと3種類の異なる洗浄槽容量を揃えました。
・耐久性が高くメンテナンスが容易な構造です。
基本情報イオン汚染分析機
槽サイズ CT10：0.375L CT100：8.12L CT1000：39.6L
洗浄時間（1試験）：IPC-TR-583規格設定で約10分
洗浄溶液：50％または75％のイソプロパノールおよび純水
洗浄溶液リサイクル方法：樹脂フィルタでの濾過（1リットル分のフィルタ樹脂入りカートリッジを交換可能）
廃液：フルリサイクルで廃液なし
測定範囲：0.01 から 20.00 マイクロg Eq NaCl / cm２
測定精度：0.0001 マイクロS/cm 約0.03 マイクロg Eq NaCl/cm２
プロセス制御：PCソフトウェアによる完全自動制御
対応言語：英語、フランス語、ドイツ語、イタリア語、中国語
電源：標準仕様 230V AC 50 Hz オプション 110V AC 60 Hz
外形寸法（ｍｍ）CT10：510×315×590 CT100：510×315×590 CT1000：600×960×1020
重量 (kg) CT10：約20kg/CT100：約25kg/CT1000：約128kg
| 価格帯 | お問い合わせください |
|---|---|
| 納期 | お問い合わせください |
| 型番・ブランド名 | Metronelec CT10/100/1000 |
| 用途／実績例 | 大規模な半導体部品メーカーでの部品保管品質確認、電子基板製造業での製造ラインでのイオン汚染度測定などに数多く使われています。 |
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