日本オートマティック・コントロール株式会社 『INS-1250』 半導体試験機
- 最終更新日:2023-02-10 11:48:12.0
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半導体のEMC規格に対応したサージ専用試験機
半導体や絶縁製品に対して要求される 1.2/50μsのサージ・インパルスのEMC試験機です。
直接印加することができる専用の評価ボードや基盤があるため、簡単に試験が可能です。
フォトカプラやデジタルアイソレーター、磁気カプラの要求規格に対応します。
基本情報『INS-1250』 半導体試験機
■ 規格
・VDE- 0884-11
デジタル・アイソレータ向けEMC規格
・IEC 60747-17
磁気結合/容量結合方式カプラーEMC向け
・IEC 60747-5-5
フォトカプラーの絶縁性能の試験規格
・UL 1577
フォトカプラーの絶縁性能の試験規格
価格情報 | お問い合わせください |
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納期 | お問い合わせください |
型番・ブランド名 | EMC Partner |
用途/実績例 | 半導体 1.2/50μsのサージ・インパルスのEMC試験機 |
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