株式会社宇部情報システム【事例で解説】外観検査システムの課題と限界

最終更新日：2024-03-14 16:02:00.0
印刷用ページ

汎用の検査装置では検知できない微細で複雑な欠陥について、実際に当社が行ってきた事例を元に、具体的な検知技術をご紹介

・外観検査の背景と課題
市場伸長が見込まれる画像処理システム市場の現状と、
外観検査自動化のメリット、検査装置導入時・導入後の課題について、
纏めております。

・微細化が進む電子回路基板のパターン検査課題
複雑化・微細化していき、検出が難しい電子回路基板のパターン欠陥について、当社で独自開発した検査手法をご紹介します。

・複数光学条件が必要な外観検査自動化における課題
対象物に対して様々な欠陥検出が必要な検査において、複数照明条件を
利用するケースがございます。最新の照明装置を用いた検査技術をご紹介しております。

・画像処理検査URCPのご紹介
画像処理検査URCPとは、ハードウェアとソフトウェアの両面から画像処理検査の【最適化】をご支援します。お客様のご要望に合わせて、画像処理検査装置をオールインワンでご提供いたします。
１．自社開発ソフトウェア※カスタマイズも可能
２．各種欠陥に合わせた光学条件・機器を選定
３．仕様に合わせた検査装置の設計・組立・納品

特設サイト

基本情報【事例で解説】外観検査システムの課題と限界

■導入が進む、外観検査システム
外観検査装置や付随するシステムを示す「検査アプリケーション」の市場は年々拡大しており、2025年には、現在の1.5倍である1兆5,000億円規模になると予測されております。

■外観検査システムの課題
製造業の現場では、年々顧客への品質要求は高度化しており、その中でも、とりわけ微細欠陥の検出要求レベルは毎年高まっていると言われております。しかしながら、検査精度の向上や検査タクトなどの要望を満たす為には、デバイス、ソフトウェア、搬送システムなどを検査対象毎にトータルで最適化する必要があります。

■顧客の要求品質に対して柔軟に対応可能な検査プラットフォーム
汎用の検査装置では検知できない微細で複雑な欠陥について、実際に当社が行ってきた事例を元に、具体的な検知技術をご紹介させていただきます。検査ソフトの自社開発から、検査装置の設計～組立～納品まで「一気通貫」で対応できるからこそ、培ってきた技術についてお伝えします。すでに外観検査を導入された企業様は勿論、これから検知精度の向上を検討される方、まだ外観検査を導入されていない企業様でもおすすめです。

価格帯	お問い合わせください
納期	お問い合わせください
型番・ブランド名	画像処理検査「URCP」
用途／実績例	※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

カタログ【事例で解説】外観検査システムの課題と限界

取扱企業【事例で解説】外観検査システムの課題と限界

株式会社宇部情報システム

製造業における基幹業務（販売・生産・物流・会計など）や工場の自動化（ＦＡ）等のシステム構築、コンピュータ支援による技術解析（CAE）を得意としており、優れたソフトウェアの最適な組み合わせによって短期間かつ費用対効果に優れた情報システムの提案から構築・運用サポートまでを支援させていただきます。【サービスメニュー】 ■システム・インテグレーション ■システム商品 ■CAE（コンピュータ支援エンジニアリング）・データ解析利活用 ■システム運用