株式会社佐用精機製作所 不良解析サービス
- 最終更新日:2023-06-23 11:39:00.0
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当社では、他社の製品サンプルを含め、様々な不良に対する詳細な不良解析サービスを行っております。
広範囲に及ぶ多様な解析手法を用いて、不良の原因を詳細に調査します。
FTIR(フーリエ変換赤外分光法)などの専門的な材料解析技術を利用し、材料自体の問題や不具合を特定することも可能です。
また、必要に応じて工業試験所などの外部設備を利用し、社内設備で対応できない特殊な解析も可能です。
依頼内容や製品の状況を詳細に伺った上で、特に不良が発生しやすいと予測される部分を集中的に解析します。
【サービス事例】
■LED製品解析
■ワイヤーボンド接合部解析
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
基本情報不良解析サービス
■外観検査、断面検査、X線検査、SEM(走査型電子顕微鏡)解析
■EDX(エネルギー分散型X線分析装置)による元素解析
■FTIR(フーリエ変換赤外分光法) 等
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価格帯 | お問い合わせください |
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納期 | お問い合わせください |
用途/実績例 | ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 |
カタログ不良解析サービス
取扱企業不良解析サービス
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各サービスで取扱い実績のある関連半導体製品 < レーザー> VCSEL(面発光レーザー)フレームレーザー キャンステムレーザー < LEDランプ > 赤 青 緑 白 フルカラー 赤外 キャンステムLED UVLED 高輝度LED マルチ波長LED < LED表示 > ライン状光源 ドットマトリックス モノシックアレー LEDプリンターヘッド 白色LED 7セグメントLED パワーLED 可視光LED 赤外LED UV LEDアレー MINILEDアレー < マイクロ波デバイス> ピル型ショットキーバリアダイオード VCOモジュール マイクロ波センサー < センサー > 磁気センサー 温度センサー 加速度センサー 赤外線センサー 圧力センサー フォトセンサー 流量センサー < 受光素子など > 受光素子アレー 受光発光素子モジュール < 工法 > Agペースト接合 金スズ(AuSn)接合 バンプ接合 半田接合 熱カシメ 接着剤 ハーメチックシール リフロー 半田リフロー 蛍光体塗布 ACP接合 ACF接合 トランスファーモールド 樹脂型モールド
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