複数の異なる測定項目条件を設定し、連続しての試験が行えます
『ST-6527B』は、半導体の動特性を設定されたテスト条件に従って
測定をする装置です。
全ての試験項目は、ディジタルオシロスコープにて取り込んだ波形を
解析して、測定及び判定。シングル試験、スイープ試験、ループ試験他、
豊富な解析機能を備えております。
また、L負荷、R負荷、スナバコンデンサ、ダイオード、ゲート抵抗は、
プラグインタイプを使用し、様々なハードウエア設定を可能にしています。
【特長】
■測定データと波形データの管理が容易
■パワーデバイスの動特性試験に特化
■高温(最大230℃)での試験が可能
※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
基本情報Dynamic Tester『ST-6527B』
【電気的仕様】
■コレクタドライバ
・Vce最大出力電圧：1700V
・Vclamp最大出力電圧：2000V
■測定負荷
・L負荷：6種類
・R負荷：5種類
■ゲートドライバー電源、ゲートドライバー、Rg
・放電時間：5ms/15V以下
・ドライバー出力ピーク電流：4A など
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| 価格帯 | お問い合わせください |
|---|---|
| 納期 | お問い合わせください |
| 用途／実績例 | ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。 |
カタログDynamic Tester『ST-6527B』
取扱企業Dynamic Tester『ST-6527B』
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