半導体の動特性を設定されたテスト条件に従って測定をする装置です
『ST-2400』は、パワーデバイス用ダイナミックテスターとして研究開発や
信頼性試験、破壊耐量試験を安全に効率的に行う装置です。
一回のパルス印加で最大10個までの波形解析条件が設定でき、評価時間の短縮が可能。
試験を行うプログラムは、条件項目に必要なパラメータを入力するだけの簡単操作。
また、試験結果は、測定データ(CSV形式)、波形データは(CSV形式・JPG形式)にて
保存されますので、市販ソフト(Excel等)にて、グラフ化・一覧表化の作成が行えます。
【特長】
■測定データと波形データの管理が容易
■パワーデバイスの動特性試験の最高クラス
■パワーデバイスの製品開発時間短縮に好適
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基本情報Dynamic Tester『ST-2400』
【機能】
■パワーデバイスに必要な試験項目を標準装備
・L負荷スイッチング測定、R負荷スイッチング測定、リカバリー耐量(Trr)、アンクランプアバランシェ測定、
Scsoa、Rbsoa、Ies電流測定、Qg(ゲート電荷)測定
■測定ジグを交換する事によりさまざまなデバイスの測定が可能
■Trip電流設定は、IcTrip設定とT1Trip設定
■IcMax設定値を超える電流が流れた場合は直ちに遮断し、DUTおよびテスターを保護
■パワー印加前後で、Ices測定が可能で、パワー印加によるデバイスダメージを測定
■ソフトウェアは、「作業者モード」、「技術者モード」が有り、パスワードにて条件ファイルの保護が可能 など
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| 価格帯 | お問い合わせください |
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| 納期 | お問い合わせください |
| 用途／実績例 | ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。 |
カタログDynamic Tester『ST-2400』
取扱企業Dynamic Tester『ST-2400』
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