X線分析顕微鏡による元素マッピング川重テクノロジー

φ10μm、φ100μmのX線プローブを搭載！微小部の元素情報の取得などに有効

当社で行っている「X線分析顕微鏡による元素マッピング」を
ご紹介いたします。

当社のX線分析顕微鏡は、内蔵のカメラで試料を観察し、任意の場所で
元素(11Na〜92U)の定性・定量分析を行うことが可能。

また、マッピング分析では、元素分布情報と同時にX線透過像を
取得することもできます。

【分析例】
■材料表面変色部の元素マッピング分析
■プリント基板上の微小異物分析
■樹脂内部の異物の非破壊分析

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

基本情報X線分析顕微鏡による元素マッピング

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取扱企業X線分析顕微鏡による元素マッピング

川重テクノロジー株式会社

化学分析、物性測定、環境分析、作業環境測定、材料試験、材料使用特性評価試験、材料ミクロ組織調査、応力測定、疲労試験、振動試験、振動・騒音計測、構造解析、熱流体解析、CAEシステム開発、製品・装置の開発・改良・環境適合性評価のための試験受託、計測・制御システム開発、ロボット・メカトロシステム開発、エレクトロニクス製品開発