シリコンパワージャパン株式会社 SSSデバイスの性能ベンチマークについての説明_PART 1

定常的なスループット性能についてご紹介いたします!

Solid State Storage(SSS)デバイスの性能は、以下の点に非常に依存します。

1.書き込み履歴とプレコンディショニング:テスト前のデバイスの状態
2.ワークロードパターン:I/Oのパターン(R/W混在比率、ブロックサイズ、アクセスなど)
3.データパターン:デバイスに書き込まれるデータペイロードの実際のビット

典型的なSSSデバイスは、箱から出したばかりの状態(FOB)でワークロードに
さらされると、通常、短期間のみ性能が上昇し、その後は定常状態に
移行することがあります。

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

基本情報SSSデバイスの性能ベンチマークについての説明_PART 1

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

価格帯 お問い合わせください
納期 お問い合わせください
用途/実績例 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

カタログSSSデバイスの性能ベンチマークについての説明_PART 1

取扱企業SSSデバイスの性能ベンチマークについての説明_PART 1

industrial_v.jpg

シリコンパワージャパン株式会社

NANDフラッシュストレージおよびDRAMモジュールの開発、製造および販売

SSSデバイスの性能ベンチマークについての説明_PART 1へのお問い合わせ

お問い合わせ内容をご記入ください。

至急度必須
ご要望必須

  • あと文字入力できます。

目的必須
添付資料
お問い合わせ内容

あと文字入力できます。

【ご利用上の注意】
お問い合わせフォームを利用した広告宣伝等の行為は利用規約により禁止しております。

はじめてイプロスをご利用の方 はじめてイプロスをご利用の方 すでに会員の方はこちら

イプロス会員(無料)になると、情報掲載の企業に直接お問い合わせすることができます。

※お問い合わせをすると、以下の出展者へ会員情報(会社名、部署名、所在地、氏名、TEL、FAX、メールアドレス)が通知されること、また以下の出展者からの電子メール広告を受信することに同意したこととなります。

シリコンパワージャパン株式会社

SSSデバイスの性能ベンチマークについての説明_PART 1 が登録されているカテゴリ