300mmウェハー対応自動接触角計
ステージ治具にはPEEKを採用。小径ウェハーにも対応。高画質500万画素メガピクセルズームレンズ採用。トレーサブル校正対応、日本製。Windows11PC別売。
基本情報自動接触角計 SImage AUTO 300 wafer
Model Simage AUTO 300 wafer
対象サンプルサイズ axφ300mm,
測定範囲 0＜θ＜ 180 °
角度分解能 0.1°
接触角解析公式 接線法(Auto mode)
θ/2 法(Manual mode)
拡張収縮法
工業規格 ASTM D724,D5725,D5946 ISO 15989
ISO書類(オプション） 校正証明書、検査成績書、トレーサビリティ体系図
稼働域 X , Z ステージ
カメラ光学系 500万画素カメラ、メガピクセルズームレンズ
対応OS Windows 11,10 ※PC別売
経時変化計測 約15fps ※PC性能に依存
ステージワークホルダー PEEK ホルダー
標準ディスペンサー 2.5-10μL
micrometer head control
電源 AC100V50/60Hz 2W AC100V50/60Hz 2W
付属品 接触角解析ソフト、USBドングル、取扱説明書、検査成績書
Options オートディスペンサー、シリンジ針各種
表面自由エネルギー解析ソフト 等
標準価格（税、送料別） ask
| 価格帯 | お問い合わせください |
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| 納期 | お問い合わせください |
| 型番・ブランド名 | SImage AUTO 300 wafer |
| 用途／実績例 | 半導体ウェハーの接触角計測 小径ウェハーにも対応 |
カタログ自動接触角計 SImage AUTO 300 wafer
取扱企業自動接触角計 SImage AUTO 300 wafer
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エキシマUV表面改質洗浄技術と表面評価技術の株式会社エキシマ 電子部品、素材、印刷、コーティングなどの幅広い分野で精密な表面処理に基づく製品、サービスを提供します。 ・エキシマ紫外線表面改質洗浄システム ・接触角計（表面評価計測） ・紫外線応用製品 ・オゾン除害ユニット
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