株式会社エキシマ横浜ラボ
最終更新日:2024-02-13 16:02:11.0
300Wafer自動接触角計
自動接触角計 SImage AUTO 300 wafer
ステージ治具にはPEEKを採用。小径ウェハーにも対応。高画質500万画素メガピクセルズームレンズ採用。トレーサブル校正対応、日本製。Windows11PC別売。 (詳細を見る)
取扱会社 300Wafer自動接触角計
エキシマUV表面改質洗浄技術と表面評価技術の株式会社エキシマ 電子部品、素材、印刷、コーティングなどの幅広い分野で精密な表面処理に基づく製品、サービスを提供します。 ・エキシマ紫外線表面改質洗浄システム ・接触角計(表面評価計測) ・紫外線応用製品 ・オゾン除害ユニット
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